ZX2
Stabiele, eenvoudige en betaalbare lasermeetsensor
Hoge nauwkeurigheid en meetstabiliteit, tegen een betaalbare prijs. De nieuwe ZX2-lasersensor levert topprestaties op het gebied van nauwkeurigheid en snelheid bij alle lineaire verplaatsingen. Met een geavanceerde HSDR-CMOS-beeldsensor wordt een hoge meetstabiliteit bereikt, zelfs op de moeilijkste oppervlakken.
- Met één toets instelbaar
- Nauwkeurigheid: 1,5–5 µm
- Elk oppervlak
- Hoge snelheid: 30 µs
Specificaties & bestelinfo
Product | Geometrical resolution | Measuring range length | Relative linearity deflection | Output type | Sensing distance | Sensing distance (min.) | Sensing method | Spot size | Height of sensor | Width of sensor | Overall length of sensor | Beschrijving | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
0.005 mm | 65-135 mm | 0.1 % | 100 mm | 65 mm | Diffuse reflective | 0.1 mm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, spot beam type, 100mm +/-35mm, 5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
0.005 mm | 65-135 mm | 0.05 % | 100 mm | 65 mm | Diffuse reflective | 2.7 mm x 0.1 mm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, line beam type, 100mm +/-35mm, 5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
0.0015 mm | 40-60 mm | 0.1 % | 50 mm | 40 mm | Diffuse reflective | 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, spot beam type, 50mm +/-10mm, 1.5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
0.0015 mm | 40-60 mm | 0.05 % | 50 mm | 40 mm | Diffuse reflective | 2.6 mm x 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, line beam type, 50mm +/-10mm, 1.5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
0.0015 mm | 43-53 mm | 0.3 % | 48 mm | 43 mm | Background suppression | 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor head, 48 +/- 5mm, spot focus (requires amplifier), glass-mirror-wafer applications |
|
|
|
NPN | Amplifier | Laser displacement sensor, CMOS type, amplifier unit, NPN output, 2 m cable |
|
|||||||||
|
PNP | Amplifier | Laser displacement sensor, CMOS type, amplifier unit, PNP output |
|
Hoe kunnen we u helpen?
Als u een vraag hebt of een offerte wilt aanvragen, kunt u contact met ons opnemen of een verzoek indienen.
Neem contact met mij op ZX2
Dank u wel voor het insturen van uw verzoek. Wij informeren u zo snel als mogelijk.
Wij ondervinden technische problemen. Uw formulierinzending is niet gelukt. Onze verontschuldigingen hiervoor, probeer het later nog een keer. Details: [details]
DownloadOfferte voor ZX2
Met dit formulier kunt u een prijsaanvraag doen voor de producten van uw keuze. Vul alstublieft alle velden in die gemarkeerd zijn met *. Uw persoonlijke gegevens behandelen wij uiteraard volstrekt vertrouwelijk.
Dank u wel voor uw aanvraag. Wij zenden u de gewenste informatie zo snel als mogelijk.
Wij ondervinden technische problemen. Uw formulierinzending is niet gelukt. Onze verontschuldigingen hiervoor, probeer het later nog een keer. Details: [details]
DownloadKenmerken
HSDR CMOS-beeldsensor
De ZX2 maakt gebruik van een nieuw ontwikkelde High Speed & Dynamic Range (HSDR) CMOS-beeldsensor. Die zorgt voor stabiele metingen zonder verlies van nauwkeurigheid op sterk absorberende of sterk reflecterende oppervlakken. De ZX2 bewaakt het ontvangen lichtniveau continu en stelt het uitgangssignaal van de laserdiode af voor compensatie. Dit alles vindt plaats binnen een cyclustijd van 60 μs.
Eenvoudige instelling
Met de ZX2 is een ingewikkelde instelprocedure door het afstellen van vele parameters niet nodig. Met een intelligente knop kan de sensor worden geconfigureerd door het type oppervlak voor de meting te definiëren.
- Eén type oppervlak
- Meerdere oppervlaktypes
- Sterk reflecterende oppervlakken
Toepassingen
Detectie met dubbele sheets
Dankzij de grote meetnauwkeurigheid en omdat hij geschikt is voor diverse oppervlaktypes, kan de ZX2 worden toegepast bij inspecties met dubbele sheets.
Positiereferentiemetingen
Omdat met de ZX2 met hoge snelheid nauwkeurige lengtemetingen kunnen worden uitgevoerd, kan hij worden ingezet voor snelle positiereferentiemetingen.
Diktemetingen
Met de berekeningseenheid in de ZX2 kunnen eenvoudig diktemetingen worden uitgevoerd. Zelfs op sterk reflecterende oppervlakken kunnen nauwkeurige diktemetingen worden uitgevoerd.
Meting van vervormingen
Bij gebruik van meerdere ZX2-units kunnen de vervorming of doorbuiging van componenten worden gecontroleerd. Zelfs wanneer de temperatuur of het meetoppervlak varieert, kunnen er nog stabiele metingen worden uitgevoerd.