Het volgen van de FOUP's in de halfgeleiderproductie is belangrijk voor contaminatiecontrole, procesoptimalisatie, opbrengstverbetering, kwaliteitscontrole en naleving. Het garandeert de bescherming van wafers, optimaliseert de workflow, verbetert de opbrengst en handhaaft de kwaliteit.
Toepassing: traceerbaarheid van de FOUP
Het efficiënt volgen van FOUP's in de halfgeleiderproductie kan een uitdaging zijn vanwege de complexiteit van het beheren van talloze FOUP's, het verwerken van grote hoeveelheden gegevens, het integreren van bestaande systemen, het waarborgen van de nauwkeurigheid van geautomatiseerde systemen, het omgaan met omgevingsfactoren en het voldoen aan industrienormen.
Onze oplossing: RFID voor volledige traceerbaarheid van processen
De RFID-technologie van OMRON biedt gespecialiseerde functies voor halfgeleidertoepassingen, waaronder chemische bestendigheid, compatibiliteit met gestandaardiseerde glazen transponders van Texas Instruments (lezen en schrijven) en ondersteuning voor het SECS I/II-protocol.
Deze geavanceerde oplossing ondersteunt vijf SEMI-normen en SECS/GEM, waardoor de verwerking van FOUP's en pods in halfgeleiderfabrieken consistent is. Deze technologie is speciaal ontworpen voor SEMI en verbetert de bescherming van wafers, optimaliseert de workflow en verhoogt de opbrengst en kwaliteit.
Technologieën mogelijk maken
V640 SEMI
Voor halfgeleidertoepassingen zijn speciale producteigenschappen vereist wat betreft chemische bestendigheid en protocol voor identificatiesystemen. De V640 van OMRON kan beide bieden, bijv. communicatie met gestandaardiseerde glastransponders van Texas Instruments en het SECS I/II-protocol.
Verwante producten
RFID-systeem voor gebruik in diverse halfgeleidertoepassingen (FOUPS & pods)
Halfgeleidertoepassingen vereisen speciale productkenmerken op het gebied van chemicaliënbestendigheid en protocol voor identificatiesystemen. De V640 van Omron biedt beide, bijvoorbeeld communicatie met gestandaardiseerde glazen transponders van Texas Instruments maar ook SECS I/II-protocol.
Wilt u meer weten?
Neem contact op met onze experts
Neem contact met mij op Traceerbaarheid Wafer-FOUP
Dank u wel voor het insturen van uw verzoek. Wij informeren u zo snel als mogelijk.
Wij ondervinden technische problemen. Uw formulierinzending is niet gelukt. Onze verontschuldigingen hiervoor, probeer het later nog een keer. Details: [details]
Download