De PV biedt functies op maat om wafers uit te lijnen en te controleren op metaalsplinters en scheurvorming. Kenmerken van de PV:

• Eenvoudige en intuïtieve instelling
• Automatische extractie en automatisch teachen van de PV-wafer
• Nauwkeurige inspecties met hoge-resolutiecamera's
• Automatische robotkalibratie
• Fade-out strings en transportbanden

Ondersteunde PV-inspecties:

• Zeer nauwkeurige uitlijning van wafers en strings
• Nauwkeurige inspectie op afschilfering
• Detectie van uiterst kleine kantscheurtjes
• Railuitlijning op de wafer